Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сирота, Н. Н. - Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
Сирота, Н. Н. - Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
Статья
Автор: Сирота, Н. Н.
Доклады Академии наук СССР: Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Сирота, Н. Н.
Доклады Академии наук СССР: Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Сирота, Н. Н.
Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводниковых соединений CaAs, InAs, InP в области температур 7—300 К / Н. Н. Сирота, А. А. Сидоров // Доклады Академии наук СССР. – 1985. – Т. 280, № 2. – С. 352-356.
-- 1. Физика.
Сирота, Н. Н.
Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводниковых соединений CaAs, InAs, InP в области температур 7—300 К / Н. Н. Сирота, А. А. Сидоров // Доклады Академии наук СССР. – 1985. – Т. 280, № 2. – С. 352-356.
-- 1. Физика.
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Доклады Академии наук СССР Т. 280, № 2
1985 г.
ISBN отсутствует
ГБУК СКУНБ им. М.Ю.Лермонтова : ОСН
Доклады Академии наук СССР Т. 280, № 2
1985 г.
ISBN отсутствует
ГБУК СКУНБ им. М.Ю.Лермонтова : ОСН